检测服务中心面向集成电路、电子元器件、半导体、PCBA、LED、汽车电子、新材料等，为客户提供包括无损分析、失效分析、物理性能测试、微纳分析、可靠性与寿命评估、工艺制程等在内的技术解决方案。
低温试验是一种标准的试验程序，用以确定经受温度突变不致产生损伤作用的电工、电子产品（包括元件、设备及其他产品）在低温下贮存和使用的适应性。
试验的温度、相对湿度表：
| （30±2）℃ | （93±3）％RH |
| （30±2）℃ | （85±3）％RH |
| （40±2）℃ | （93±3）％RH |
| （40±2）℃ |
（85±3）％RH |
| 参考标准：GB/T 2423.3 / IEC 60068-2-78 | 温度范围：-40~ 100 \ -40~ 100 | ||
| 湿度范围：20~ 98%RH | 试验周期：12h, 16h, 24h和2d, 4d, 10d, 21d, 或56d, 12h, 16h, 24h和2d, 4d, 10d, 21d, 或56d | ||
| 试验设备： |
|
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