检测服务中心面向集成电路、电子元器件、半导体、PCBA、LED、汽车电子、新材料等，为客户提供包括无损分析、失效分析、物理性能测试、微纳分析、可靠性与寿命评估、工艺制程等在内的技术解决方案。
低温试验是一种标准的试验程序，用以确定经受温度突变不致产生损伤作用的电工、电子产品（包括元件、设备及其他产品）在低温下贮存和使用的适应性。
| 参考标准 | GB/T 2423.1 / IEC 60068-2- | |
| 测试服务 | 1.温度范围（低温）：-70~ 0 | 2.温度波动：±1℃ |
| 试验周期 | 2h, 16h, 72h, 96h | |
| 试验设备 |
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